Zygo激光干涉仪利用He-Ne激光源,实现波长级干涉测量,分辨率达0.1nm。适用于镜面平整度评估,数据输出兼容CAD软件。
其非接触式设计减少样品损伤,支持自动化扫描模式。在半导体制造中,确保晶圆表面均匀性,符合ISO计量标准。
Zygo激光干涉仪利用He-Ne激光源,实现波长级干涉测量,分辨率达0.1nm。适用于镜面平整度评估,数据输出兼容CAD软件。
其非接触式设计减少样品损伤,支持自动化扫描模式。在半导体制造中,确保晶圆表面均匀性,符合ISO计量标准。
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