Z-扫描技术是核心工具。通过激光束扫描样品,测量透射率变化量化非线性系数。设备如Newport系列支持皮秒脉冲测试。
椭偏仪用于表面分析。评估薄膜材料的双折射和各向异性,确保均匀性。B2B采购时选带自动化软件的型号提高效率。
荧光光谱仪检测杂质影响。激发波长匹配材料吸收峰,识别降解产物。分辨率需<1nm以精确表征。
损伤阈值测试采用飞秒激光系统。模拟实际工作条件,设定阈值>1GW/cm²。数据用于器件寿命预测。
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综合平台如集成光学工作站节省空间。支持多参数同步测量,适用于研发实验室。
校准标准如KDP晶体确保准。