光子计数探测器原理解析：工业无损检测中的高精度成像技术

光子计数探测器基于半导体材料如CdTe，直接将入射X射线光子转化为电荷脉冲，实现单光子级计数，避免能量积分失真，提高信噪比至传统探测器的数倍。

在工业应用中，该原理应用于材料缺陷检测与质量控制，降低辐射剂量并加速扫描过程，助力制造业提升生产效率与产品可靠性，带来显著成本节约。

未来优化算法与集成设计将进一步放大其商业潜力，推动智能工厂转型，实现高通量无损检测标准化。