工业精密制造中CD（关键尺寸）的含义与优化应用

在精密制造中，CD指Critical Dimension，即关键尺寸，用于定义半导体芯片或机械零件的精确几何参数，确保产品功能性和可靠性。

CD测量依赖光学显微镜或SEM设备，通过实时监控工艺偏差，实现微米级精度控制，显著降低废品率。

优化CD管理可缩短生产周期20%以上，提升企业竞争力，推动高端制造领域的市场份额增长。