扫描式电子显微镜在工业质检中的原理与应用实践

扫描式电子显微镜（SEM）通过电子束扫描样品表面，生成纳米级分辨率图像，适用于工业微观结构表征。

在制造业中，SEM用于合金缺陷检测、涂层均匀性评估和纳米材料形态观察。样品需真空镀导电层以防充电效应。

结合二次电子和背散射模式，实现表面形貌与成分对比分析。定期维护电子枪，确保高通量工业检测效率。