膜测厚仪：精密测量薄膜厚度，确保制造业质量控制

膜测厚仪采用光学或电容原理，实现微米级精度测量，避免传统接触方法对薄膜的损伤。在半导体封装和光学涂层生产中，它实时监测厚度偏差，确保工艺参数稳定。

该仪器集成数据分析软件，支持在线集成与离线检测，适用于卷材连续生产。用户可自定义测量范围，适应不同材料如PET、PE膜，提高质量追溯能力。

选择膜测厚仪时，关注分辨率和环境适应性。定期校准可延长使用寿命，助力企业符合ISO标准，实现零缺陷制造目标。