详解可控硅测量方法:图解门极触发电压与阻断电压测试指南
电力电子
2025-12-20
查询: 可控硅测量方法图解
关键词:
可控硅测量方法图解
摘要:本文图解可控硅关键参数测量方法,提供实用步骤和注意事项,确保测试准确性。
可控硅(SCR)是一种功率半导体器件,用于控制大电流。测量其参数如门极触发电压(VGT)和正向阻断电压(VDRM)至关重要,可通过多用表或专用测试仪进行。
门极触发电压测量:将阳极接正极,阴极接负极,门极施加信号。图示电路中,观察触发电流IGT变化,确保在额定范围内,避免过载损坏器件。
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注意事项:测试前断电,选用合适量程。环境温度影响参数,建议在25℃标准条件下操作。定期校准仪器以保证测量精度。
发布时间:2025-12-20
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