设备采用远心光学系统与高分辨率相机,支持微米级尺寸、角度及表面缺陷测量。
广泛用于电子元器件、五金零件及半导体行业质量控制,提高检测效率与准确性。
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配备测量软件可实现数据自动记录与分析,适用于生产线上批量检测与实验室研究。
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