扫描电子显微镜在工业精密测量中的应用优势与技术原理

扫描电子显微镜（SEM）利用电子束扫描样品表面，生成高分辨率图像，支持纳米级测量。

在制造业中，SEM用于检测材料微观结构和缺陷，提高产品质量控制。

结合能量色散谱（EDS），可实现元素分析，适用于半导体和金属加工行业。