电子分析天平基于电磁力平衡原理,利用电磁线圈产生的力抵消样品重力,实现微克级精度测量。
传感器检测秤盘位移,控制电路调整电流以维持平衡,确保读数稳定可靠,适用于化学和制药领域。
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其优势在于高灵敏度和抗干扰能力,通过校准可提升测量准确性,满足工业质量控制需求。
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