负载测试对电子器件寿命的影响是什么？

负载测试通过加速老化，量化器件寿命。Arrhenius模型预测，温度每升10°C，寿命减半。高负载暴露此效应。

影响体现在参数漂移。持续负载导致阈值电压偏移，影响电路精度。测试数据指导裕量设计。

机械应力如热膨胀不匹配，诱发裂纹。测试监测这些，优化封装材料延长寿命。

B2B制造中，寿命数据支持保修条款。可靠测试降低后期索赔风险。

预防性维护依赖测试洞见。定期负载评估，预测失效窗口。

综合影响，负载测试桥接实验室与实地，确保器件经久耐用。