干涉仪是光学元件表面平整度测试的核心工具。通过激光干涉条纹分析，检测纳米级偏差，确保元件适用于精密电工设备。
光谱仪用于测量透过率和反射谱。扫描不同波长，评估涂层性能，避免在光通信中信号失真。
成像质量测试仪模拟实际应用场景，评估焦距和畸变。电子电工行业常用此工具验证镜头在成像系统中的表现。
便携式反射率计适合现场快速检测。体积小巧，便于供应链中的抽检操作。
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集成软件平台可汇总多工具数据，提供全面报告。选择工具时，考虑兼容性和精度匹配。
掌握这些工具的应用，能有效保障光学元件的质量控制。