透射电子显微镜（TEM）在工业材料分析中的核心作用与技术优势

透射电子显微镜（TEM）利用电子束穿透样品成像，分辨率可达原子级别，在工业材料科学中广泛用于晶体结构和缺陷分析。

TEM技术支持高分辨率成像和衍射模式，适用于纳米材料研发，确保产品质量控制和故障诊断。

工业应用中，TEM结合能量色散谱（EDS）实现元素分布映射，提升合金和半导体材料的优化效率。