膜孔径测量是电子电工领域中确保过滤膜性能的关键步骤。常用的方法包括气泡点法，该方法通过观察气体通过湿润膜的压力来计算孔径大小。这种方法适用于微孔膜的检测，因为它能提供平均孔径的可靠数据。
另一种常见的技术是汞入侵法，利用汞在高压下进入膜孔的原理来测定孔径分布。该方法精度高，但需要专业的仪器仪表，如汞孔隙仪，以避免操作中的安全隐患。
扫描电子显微镜（SEM）也可用于直接观察膜孔径，提供高分辨率的图像分析。在电子行业中，这种方法常用于验证纳米级膜孔的精确尺寸，但设备成本较高。
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在实际操作中，选择测量方法需考虑膜材料。