气泡点法简单快速,适用于快速筛查,但无法提供孔径分布信息,仅给出最大孔径。
汞入侵法精度高,能绘制孔径分布曲线,但在电子仪器中使用需注意汞的毒性。
SEM方法直观,提供形态学数据,但样品准备复杂且设备昂贵。
激光衍射法非破坏性,适合大批量检测,但对膜厚度有要求。
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BET表面分析法间接推算孔径,结合其他方法使用效果更好。
选择方法时需根据具体应用,如在仪器仪表中优先非接触式检测。
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激光衍射法非破坏性,适合大批量检测,但对膜厚度有要求。
BET表面分析法间接推算孔径,结合其他方法使用效果更好。
选择方法时需根据具体应用,如在仪器仪表中优先非接触式检测。
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