Filmetrics测厚仪利用反射光谱分析法,非接触测量薄膜厚度,适用于半导体晶圆、太阳能电池等工业场景,确保微米级精度。
该仪器集成AI算法,实时数据分析减少人为误差,提高产量20%以上,为制造业注入显著商业价值。
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在涂层优化中,Filmetrics测厚仪支持多层膜厚监测,推动汽车和光学工业向智能化转型。
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