扫描透射电子显微镜（STEM）在纳米材料分析中的高分辨成像技术

STEM利用聚焦电子束扫描样品，生成高对比度透射图像，检测晶格缺陷和元素分布，精度达0.1nm以下，适用于半导体和合金研发。

配备EDS和EELS探测器，STEM支持原位化学分析，实时监测材料在应力或温度下的相变行为，提升实验效率。

其低剂量成像模式减少样品损伤，结合自动化软件优化数据处理，加速从实验室到工业应用的转化。