红外原子力显微镜在材料科学领域的精密成像技术应用

红外原子力显微镜结合红外光谱与原子力探针，实现纳米尺度下材料的化学与力学特性同步检测。

在工业研发中，该技术用于半导体和聚合物材料的表面分析，提高产品质量控制和缺陷诊断效率。

优化扫描参数可提升分辨率，适用于高温或真空环境下的连续监测。