IL-100采用红光半导体激光,测量范围75-130mm,重复精度达2μm,适应多种表面材质。
具备优秀线性度与抗干扰能力,无需复杂调校即可实现稳定高精度测量。
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广泛应用于自动化产线的位置控制、厚度检测及振动监测,提升工业检测可靠性。
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