探针显微镜：纳米级表面形貌与物性精准表征利器

扫描探针显微镜（SPM）包括AFM、STM等多种模式，可在真空、大气或液体环境中实现纳米级三维形貌表征。

在半导体材料、薄膜涂层及生物大分子研究领域，探针显微镜提供高分辨率表面粗糙度、硬度及导电性数据。

操作时需严格控制探针状态与扫描参数，并结合专业软件分析，才能获得可靠的纳米尺度测量结果。