超景深显微镜：工业检测与微观分析的高精度工具
检测仪器
2026-01-10
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超景深显微镜[已删除]
摘要：超景深显微镜通过图像融合技术实现大景深清晰成像，适用于精密零件、半导体、材料表面检测。
采用多焦平面图像自动合成技术，可在一次对焦中获得从高到低整个视场的全焦清晰图像。
放大倍率通常覆盖20X-2000X，支持2D/3D测量，广泛用于金属断口、金相组织、芯片封装等分析。
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配备专业测量软件与高清成像系统，为品质控制、失效分析、研发验证提供高精度可靠的微观观察手段。
发布时间：2026-01-10
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