晶间腐蚀试验基于晶界贫铬导致的电化学差异。
1. 晶界敏感化:材料热处理不当引起碳化铬析出,贫铬区易腐蚀。
2. 电化学作用:试验介质加速晶界阳极溶解,形成局部腐蚀。
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3. 检测机制:通过腐蚀产物或结构变化评估材料的耐蚀性。
晶间腐蚀试验基于晶界贫铬导致的电化学差异。
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2. 电化学作用:试验介质加速晶界阳极溶解,形成局部腐蚀。
3. 检测机制:通过腐蚀产物或结构变化评估材料的耐蚀性。
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