工业安检X光机盲区优化策略：提升检测精度与生产效率

工业安检X光机盲区常源于物料密度不均或设备角度偏差。通过多源X射线成像技术，可实现360度无死角扫描，提高检测准确率达95%以上。

优化策略包括集成AI算法实时校正图像畸变，并结合红外辅助定位，显著降低漏检风险，助力制造业减少事故损失，提升运营效率。

实施这些方法可降低保险成本20%，增强供应链安全，创造可持续商业价值，推动工业4.0转型。