X射线光电子谱仪在工业材料表面分析中的核心应用与技术优势

X射线光电子谱仪通过X射线激发样品表面电子，测量光电子动能以确定元素组成和化学状态。该技术非破坏性，适用于半导体和涂层材料分析。

在工业应用中，XPS可检测表面污染、氧化层厚度，提供纳米级深度剖析，支持产品优化和故障诊断，提高制造效率。