光学显微镜是最常见的类型,利用可见光放大样品,适用于工业材料表面观察,分辨率达微米级,常用于质量控制。
电子显微镜包括扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM),提供纳米级分辨率,广泛用于半导体和金属分析。
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扫描探针显微镜如原子力显微镜(AFM),通过探针扫描表面,实现原子级成像,在纳米技术和精密制造中不可或缺。
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