电子元器件的可靠性检验主要依据IEC 61709标准。该标准定义了失效率计算方法，考虑温度、电压等应力因素。
加速寿命测试是常见方法，如高温存储测试（85°C/85%RH）。通过Arrhenius模型推算实际使用寿命，通常目标为MTBF超过10万小时。
机械应力检验包括振动和冲击测试。模拟运输和安装环境，有助于元器件在10g加速度下无功能丧失。
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电迁移分析针对芯片内部，监测电流密度对金属线的腐蚀。使用有限元模拟预测失效时间。
批量抽样检验采用MIL-STD-105E计划。AQL水平设定为0.65%，通过破坏性测试验证批。
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