PCT测试，即压力烹饪测试（Pressure Cooker Test），是一种模拟高温、高湿环境的加速可靠性测试。它通过在密封容器中施加高温、高湿和高压条件，来加速电子元件的潜在缺陷暴露，从而预测其长期使用性能。在电子电工行业中，这种测试广泛应用于半导体、电路板和连接器等元件的验证。
测试过程中，样品置于121°C、100%相对湿度及2个大气压的条件下，通常持续数小时至数百小时。根据JEDEC标准J-STD-022，该测试能有效模拟潮湿环境下的腐蚀和机械应力对焊点的破坏作用，帮助制造商识别设计或工艺。
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