扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)提供纳米级分辨率,精准识别工业材料中的裂纹、杂质和腐蚀,确保结构完整性。
在半导体与航空领域应用电镜检测,可将缺陷检测率提高25%,降低生产废品率,显著提升企业竞争力和市场份额。
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集成AI算法的电镜系统加速数据分析,实现实时质量反馈,支持智能制造转型,助力可持续工业发展。
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