短波红外（SWIR）成像技术在制造业质量检测中的创新应用与商业价值

SWIR成像传感器穿透硅晶片检测内部缺陷，避免传统可见光盲区。在半导体制造中，提高良率15%，每年节省数百万检验成本。

集成AI的SWIR热成像实时监控焊接温度异常，预防生产故障。助力智能工厂转型，提升自动化水平，实现可持续商业增长。