高温老化试验箱采用PID控温系统,温度均匀性优于±0.5℃,可模拟85℃/85%RH条件,快速暴露电子元器件潜在故障,确保符合IPC标准。
在半导体、汽车电子领域广泛应用,通过加速老化数据分析,优化设计迭代,减少生产缺陷率达20%,显著提升产品商业价值和品牌信誉。
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