白光干涉仪工作原理解析：工业精密测量的光学利器

白光干涉仪利用宽谱白光源，通过分束器将光分为参考臂和测量臂。测量光反射样品表面后，与参考光叠加产生干涉条纹，实现亚纳米级位移检测。

干涉仅在白光相干长度内发生，零光程差处形成包络峰。通过扫描样品高度，分析干涉信号相位，实现表面形貌三维重建，提高工业加工精度。

该技术降低测量误差，支持在线检测，助力制造业优化生产流程，显著提升产品竞争力与成本效益。