高温老化柜:电子元器件可靠性加速测试的关键设备 - 测试设备 - 国尼卡

高温老化柜:电子元器件可靠性加速测试的关键设备

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关键词: 高温老化柜
摘要:高温老化柜模拟极端环境,加速电子产品老化过程,快速识别潜在故障,提高产品品质和市场竞争力。

配备PID温控系统,高温老化柜温度范围RT+10℃至150℃,均匀性±2℃,适用于LED和集成电路的批量老化测试。

通过可编程循环模式,模拟实际工况,缩短验证周期,降低研发成本,确保符合RoHS和IPC标准的安全要求。

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发布时间:2025-12-17
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