晶圆制造是基础,使用8英寸或12英寸硅晶圆,通过光刻、离子注入和蚀刻形成MOSFET或IGBT结构。
掺杂和扩散工艺控制阈值电压和导通电阻,实现低RDS(on)的功率器件特性。
金属化层沉积形成互连,确保高频开关下的低寄生电感。
封装过程采用QFN或TO-220等形式,提供良好散热和引脚布局,适应不同应用场景。
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最终测试包括高压击穿、开关特性及热阻测量,保证芯片在-40℃至150℃温度范围稳定工作。
良率优化通过DOE实验设计,提升制造一致性。
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