电子元器件老化测试旨在模拟长期使用条件，在线监测提供连续数据流，如温度循环下的电阻变化。这比离线抽样更准确，减少测试偏差。
监测系统部署加速计和湿度传感器，记录环境诱发因素。数据实时上传至中央服务器，便于多批次比较分析。
统计分析模块应用Weibull分布模型，预测失效概率。基于在线数据，工程师可调整测试参数，优化加速因子选择。
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在半导体行业，该作用体现在晶体管阈值漂移监测。通过高分辨率ADC，系统捕捉微伏级变化，揭示早期退化迹象。
挑战包括噪声干扰和传感器漂移。为此，采用滤波算法和定期校准，确保数据完整性。