MCU铜排激光清洗技术:去除氧化层提升电气制造生产良率 - 电气制造 - 国尼卡

MCU铜排激光清洗技术:去除氧化层提升电气制造生产良率

电气制造 查询: mcu铜排激光清洗
摘要:激光清洗精准去除MCU铜排表面氧化物和污垢,确保高洁净度和后续工艺质量。

设备采用光纤激光器,清洗效率高,平均15mm×15mm区域仅需1-1.3秒。氧化等级可达0级。

适用于IGBT和MCU铜排,视觉定位和测高补偿实现精准控制。表面粗糙度Ra<3,提升焊接良率。

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自动化操作减少人力,符合环保要求,推动电气行业智能化生产。

发布时间:2026-01-11
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