集成电路电气性能检验从静态参数开始。使用源表测量漏电流和阈值电压，有助于在25°C下漏电流小于1nA。
动态性能测试涉及时序分析。示波器捕获上升/下降时间，目标为小于10ns，以支持高速应用。
噪声裕度检验模拟实际负载。注入干扰信号，验证电路维持逻辑电平差超过0.5V。
功耗分析通过积分功率计计算静态和动态功耗。低功耗IC应在满载时不超过100mW。
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温度循环测试覆盖-40°C至125°C范围。监测参数漂移不超过5%，确认热稳定性。
流程结束以数据汇总，支持制造优化和供应商反馈。
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